Цена: по запросу
Применяется при контроле слабоконтрастных объектов с применением высоковольтных рентгеновских аппаратов или гамма-излучения высокой активности. Подходит для контроля материалов с низким атомным числом. Fujifilm IX150 особо полезна при контроле толстых образцов или в случае, когда не доступен высокоактивный источник излучения. Пленка Fujifilm IX150 соответствует 3-му классу по ASTM.
Фактор гранулярности, σD | 0.035 |
---|---|
Отношение сигнал/шум, G/σd | 112 |
Чувствительность, рентген-1 | 17 |
Коэффициент контрастности G при D=2 | 3.9 |
Коэффициент контрастности G при D=4 | 6.2 |
Качественная классификация по EN 584-1 | C6 |
Качественная классификация по ISO 11699 | T4 |