Цена: по запросу
Применяется при контроле слабоконтрастных объектов с применением высоковольтных рентгеновских аппаратов или гамма-излучения высокой активности. Подходит для контроля материалов с низким атомным числом. Пленка Fujifilm IX80 соответствует 1-му классу по ASTM. Аналог Agfa Structurix D5, Kodak Industrex T200.
Фактор гранулярности, σD | 0.025 |
---|---|
Отношение сигнал/шум, G/σd | 166 |
Чувствительность, рентген-1 | 4.5 |
Коэффициент контрастности G при D=2 | 4.15 |
Коэффициент контрастности G при D=4 | 7 |
Качественная классификация по EN 584-1 | C4 |
Качественная классификация по ISO 11699 | T2 |